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用亚像素技术实现集成块引脚位置偏差的测量
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[cstr]
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中图分类号:

TN407 TN247

基金项目:

天津市光电子联合研究中心资助项目


A High-accuracy Measurement of IC Chip Pin Positions Deviation Based on Subpixel Techniques
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    摘要:

    对引脚边缘轮廓进行提取 ,采用亚像素细分的方法 ,使引脚边缘测量精度达到亚像素级 ,并利用三次样条插值拟合出引脚边缘灰度的分布函数 ,实现了引脚边缘位置的精确定位。实验证明 ,该方法能够达到集成引脚位置偏差 3°的工业检测指标

    Abstract:

    参考文献
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    引证文献
引用本文

乔辉,杨勇,方志良,刘福来.用亚像素技术实现集成块引脚位置偏差的测量[J].光电子激光,2002,(9):949~952

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  • 最后修改日期:2002-03-18
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